2.2電池的蝸牛紋和隱裂：

　　組件內(nèi)的電池產(chǎn)生蝸牛紋是多個(gè)因素共同作用下的綜合結(jié)果，但必要條件是電池隱裂或者電池刻蝕工藝導(dǎo)致的PN結(jié)裸露，一般輕微隱裂不會導(dǎo)致電池和組件輸出功率下降，但隨著隱裂程度的加劇和時(shí)間的推移，隱裂對組件衰減的作用會逐漸顯現(xiàn)，嚴(yán)重隱裂必然導(dǎo)致電池和組件輸出功率下降，甚至?xí)�引起熱斑，直至燒毀組件。而電池隱裂又有先天和后天之分。

　　組件出廠前的EL測試，是檢驗(yàn)組件先天隱裂的關(guān)鍵工序，它可以保證組件出廠時(shí)無隱裂，若有不影響電性能輕微隱裂的組件將會被降級，有嚴(yán)重隱裂的組件則會被返修和再降級。出廠組件若有可能影響電性能的隱裂是組件制造方的責(zé)任。

　　由于每個(gè)組件都有自己的身份證——條碼，掃描條碼可以得到該組件的所有信息，包括生產(chǎn)工廠、出廠日期、所用物料、測試數(shù)據(jù)、EL圖像等，若想知道組件出廠時(shí)是否有隱裂存在，只需通知組件生產(chǎn)工廠的質(zhì)量部門，調(diào)取EL圖像一看便知。

　　造成組件后天隱裂可能性的地方很多，主要是運(yùn)輸、安裝過程中要遵循相關(guān)規(guī)則，輕拿輕放，不讓組件受到人為傷害是關(guān)鍵。這個(gè)階段電池若產(chǎn)生隱裂，則是運(yùn)輸和安裝方的責(zé)任。

　　組件安裝到位后，在運(yùn)維、保養(yǎng)、清洗等過程中，電池依然有可能產(chǎn)生隱裂，若是人為因素，則是運(yùn)維方的責(zé)任。若是因風(fēng)大、雪壓等組件變形引起的隱裂，則是電站設(shè)計(jì)方的責(zé)任，早知有此風(fēng)險(xiǎn)，應(yīng)采用抗變形能力強(qiáng)的組件，如小面積組件、加厚玻璃或帶背面支撐的組件等。

　　至于蝸牛紋，有蝸牛紋的電池一定有隱裂，有隱裂的電池不一定有蝸牛紋。筆者認(rèn)為，讓蝸牛紋顯示隱裂的存在并不一定是壞事，它提醒我們要善待組件，從組件的設(shè)計(jì)到制造，電站運(yùn)輸、安裝組件到運(yùn)維都要防止電池隱裂的產(chǎn)生。無論如何，隱裂對組件長期可靠性帶來了嚴(yán)重的威脅。

　　雙玻組件具有天生的抗隱裂性能，采用雙玻組件只要保證出廠時(shí)電池?zé)o隱裂，后續(xù)幾乎沒有產(chǎn)生隱裂的可能性。

 

　　2.3 熱斑：

　　組件熱斑在兩種情況下回產(chǎn)生:

　　1）被陰影樹葉鳥糞灰塵等部分遮擋電池產(chǎn)生的熱斑，此時(shí)只需去掉遮擋物即可；

　　2）組件中一塊或幾塊電池的溫度在工作狀態(tài)下比其它電池高出許多，說明這些電池是問題電池，例如混入的低檔電池或并聯(lián)電阻小、漏電電流較大的電池，長期下去熱斑處封裝材料老化加快、電池更快衰減形成惡性循環(huán)，直至造成組件整體衰減或報(bào)廢，這類缺陷的情形應(yīng)由組件制造方負(fù)責(zé)；